器件失效中EOS/ESD失效率占30%~40%，而高静电敏感的器件EOS/ESD失效率高达60%左右。

高精度敏感器件失效原因排序：

大量的静电荷在存在电势差的物体（人或机器）与产品之间快速传递，短时间内产生很大的电流（远远超过产品可以承受的电流），重则损毁电路，造成产品不能使用；轻则使电路过热收到损伤，影响产品的寿命和可靠性。

静电损伤有两种形式：

硬损伤：又称“突发性完全失效”、“一次性损坏”，损伤后器件直接不能工作，此种损伤约占静电损伤的10%；

软损伤：又称“潜在性缓慢失效”、“多次损伤累积后失效”，此种损伤减弱了器件或者单板的性能，单仍能通过测试，单板或器件的特性变差，最终失效，此种损伤约占静电损伤的90%。

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